Question

10．實(shí)驗(yàn)室中，常用天平來測量物體的質(zhì)量，測量時(shí)應(yīng)將砝碼放在天平的右盤內(nèi)（選填“物體”或“砝碼”）．“測定物質(zhì)的密度”和“探究物質(zhì)的質(zhì)量與體積關(guān)系”兩個(gè)實(shí)驗(yàn)中都進(jìn)行了多次測量，其多次測量的目的不同（選填“相同”或“不同”）；若要測量某固體的密度，實(shí)驗(yàn)中需要先測量該物體的質(zhì)量（選填“質(zhì)量”或“體積”）．

Answer 1

分析 （1）知道天平是測量物體質(zhì)量的儀器，掌握天平的正確使用．
（2）根據(jù)密度的概念ρ=$\frac{m}{V}$，質(zhì)量與體積的比值就是密度；在探究定量關(guān)系時(shí)，多次測量是為了得到定量的關(guān)系，在測量實(shí)驗(yàn)中，多次測量，是為了求平均值，減小誤差；若要測量某固體的密度，實(shí)驗(yàn)中需要先測量該物體的質(zhì)量．

解答 解：（1）天平是測量物體質(zhì)量的儀器．
在調(diào)節(jié)好天平以后，把物體放在天平的左盤，砝碼放在天平的右盤．
（2）“探究物質(zhì)質(zhì)量與體積的關(guān)系”和“測定物質(zhì)的密度”實(shí)驗(yàn)中，都需要測量質(zhì)量和體積，所以用到的器材是相同的；
在“探究物質(zhì)質(zhì)量與體積的關(guān)系”實(shí)驗(yàn)中多次測量的目的是為了對數(shù)據(jù)分析，得到質(zhì)量與體積的關(guān)系；
而在“測定物質(zhì)的密度”實(shí)驗(yàn)中多次測量的目的是為了多次測量求平均值，減小誤差，因此兩個(gè)實(shí)驗(yàn)的目的不同；
若要測量某固體的密度，實(shí)驗(yàn)中需要先測量該物體的質(zhì)量，因?yàn)橄葴y體積時(shí)，物體上會沾有水，使得物體質(zhì)量變大．
故答案為：質(zhì)量；砝碼；不同；質(zhì)量．

點(diǎn)評 本題主要考查了天平的正確使用，值得注意的是，無論物體和砝碼各放在哪個(gè)天平盤里，一定是：左盤里物體的質(zhì)量=右盤里物體的質(zhì)量+游碼對應(yīng)的刻度值．
物理中探究實(shí)驗(yàn)都要進(jìn)行多次實(shí)驗(yàn)，有時(shí)是多次測量求平均值減小誤差，有時(shí)是多次實(shí)驗(yàn)使結(jié)論具有普遍性．