| A. | 在統(tǒng)計學(xué)中,回歸分析是檢驗兩個分類變量是否有關(guān)系的一種統(tǒng)計方法 | |
| B. | 線性回歸方程對應(yīng)的直線$\widehat{y}$=$\widehat$x+$\widehat{a}$至少經(jīng)過其樣本數(shù)據(jù)點(diǎn)(x1,y1),(x2,y2),(x3,y3),(xn,yn)中的一個點(diǎn) | |
| C. | 在殘差圖中,殘差點(diǎn)分布的帶狀區(qū)域的寬度越狹窄,其模型擬合的精度越高 | |
| D. | 在回歸分析中,相關(guān)指數(shù)R2為0.98的模型比相關(guān)指數(shù)R2為0.80的模型擬合的效果差 |
分析 根據(jù)概率統(tǒng)計中變量間的相關(guān)關(guān)系,線性回歸方程以及殘差圖與相關(guān)指數(shù)R2的概念,對選項中的命題進(jìn)行分析、判斷正誤即可.
解答 解:對于A,統(tǒng)計學(xué)中,獨(dú)立性檢驗是檢驗兩個分類變量是否有關(guān)系的一種統(tǒng)計方法,∴A錯誤;
對于B,線性回歸方程對應(yīng)的直線$\widehat{y}$=$\widehat$x+$\widehat{a}$可能不過任何一個樣本數(shù)據(jù)點(diǎn),∴B錯誤;
對于C,殘差圖中,殘差點(diǎn)分布的帶狀區(qū)域的寬度越狹窄,其模型擬合的精度越高,∴C正確;
對于D,回歸分析中,相關(guān)指數(shù)R2為0.98的模型比相關(guān)指數(shù)R2為0.80的模型擬合的效果好,∴D錯誤.
故選:C.
點(diǎn)評 本題考查了概率統(tǒng)計中變量間的相關(guān)關(guān)系,線性回歸方程的理解與應(yīng)用,殘差圖與相關(guān)指數(shù)R2的應(yīng)用問題.
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科目:高中數(shù)學(xué) 來源: 題型:填空題
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科目:高中數(shù)學(xué) 來源: 題型:選擇題
| A. | 2或3 | B. | 3 | C. | 2 | D. | 2或-3 |
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科目:高中數(shù)學(xué) 來源: 題型:解答題
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科目:高中數(shù)學(xué) 來源: 題型:解答題
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科目:高中數(shù)學(xué) 來源: 題型:選擇題
| A. | 1500 | B. | 1700 | C. | 4500 | D. | 8000 |
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科目:高中數(shù)學(xué) 來源: 題型:選擇題
| A. | 20° | B. | 70° | C. | 110° | D. | 160° |
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科目:高中數(shù)學(xué) 來源: 題型:解答題
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