在雙縫干涉試驗中發(fā)現(xiàn)條紋太密，不便于測量，可以采用的改善辦法（ ）
| A．改用波長較短的光（比如紫光）做入射光 | B．減小雙縫到屏的距離 |
| C．增大雙縫間距 | D．減小雙縫間距 |
快捷英語周周練系列答案科目：高中物理 來源：2012屆河南省長葛市高二下學期期中考試物理試題 題型：選擇題
在雙縫干涉試驗中發(fā)現(xiàn)條紋太密，不便于測量，可以采用的改善辦法（ ）
A．改用波長較短的光（比如紫光）做入射光 B．減小雙縫到屏的距離
C．增大雙縫間距 D．減小雙縫間距
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科目：高中物理 來源： 題型：單選題
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科目：高中物理 來源： 題型：
在雙縫干涉試驗中發(fā)現(xiàn)條紋太密，不便于測量，可以采用的改善辦法（ ）
A．改用波長較短的光（比如紫光）做入射光 B．減小雙縫到屏的距離
C．增大雙縫間距 D．減小雙縫間距
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