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面積為S,匝數(shù)為n的矩形線框,在磁感強度為B的勻強磁場中繞與磁場方向相垂直的軸勻速轉動,軸線穿過線框的中心,位于線框平面內(nèi),且與線框的兩條邊相垂直,若線框的電阻可不計,導線兩端接一額定電壓為U,額定電功率為P的燈泡,要使燈泡正常發(fā)光,線框每分鐘的轉數(shù)為( 。?

A.U/2πnBS   B.2U/Nbs       C.302U/πnBS     D.30U/πnBS?

解析:本題主要考查交流電流的產(chǎn)生過程和有效值。要使燈泡正常發(fā)光,燈泡兩端的電壓是交變電流的有效值應為U,則有U=nBSω,U=,可解得?

ω=U/nBS rad/s?

線框每分鐘的轉數(shù)為n=ω×60/2π=30U/πnBS。?

答案:C

練習冊系列答案
相關習題

科目:高中物理 來源: 題型:

精英家教網(wǎng)如圖所示是測量通電螺線管A內(nèi)部磁感應強度B及其與電流I關系的實驗裝置.將截面積為S、匝數(shù)為N的小試測線圈P置于螺線管A中間,試測線圈平面與螺線管的軸線垂直,可認為穿過該試測線圈的磁場均勻.將試測線圈引線的兩端與沖擊電流計D相連.撥動雙刀雙擲換向開關K,改變通入螺線管的電流方向,而不改變電流大小,在P中產(chǎn)生的感應電流引起D的指針偏轉.
(1)將開關合到位置1,待螺線管A中的電流穩(wěn)定后,再將K從位置1撥到位置2,測得D的最大偏轉距離為dm,已知沖擊電流計的磁通靈敏度為Dφ,Dφ=
dm
N△?
,式中△?為單匝試測線圈磁通量的變化量.則試測線圈所在處磁感應強度B=
 
;若將K從位置1撥到位置2的過程所用的時間為△t,則試測線圈P中產(chǎn)生的平均感應電動勢ε=
 

(2)調節(jié)可變電阻R,多次改變電流并撥動K,得到A中電流I和磁感應強度B的數(shù)據(jù),見右表.由此可得,螺線管A內(nèi)部在感應強度B和電流I的關系為B=
 

實驗次數(shù) I(A) B(×10-3T)
1 0.5 0.62
2 1.0 1.25
3 1.5 1.88
4 2.0 2.51
5 2.5 3.12
(3)(多選題)為了減小實驗誤差,提高測量的準確性,可采取的措施有
(A)適當增加試測線圈的匝數(shù)N
(B)適當增大試測線圈的橫截面積S
(C)適當增大可變電阻R的阻值
(D)適當撥長撥動開關的時間△t.

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科目:高中物理 來源: 題型:

如圖所示是測量通電螺線管A內(nèi)部磁感應強度B及其與電流I關系的實驗裝置.將截面積為S、匝數(shù)為N的小試測線圈P置于螺線管A中間,試測線圈平面與螺線管的軸線垂直,可認為穿過該試測線圈的磁場均勻.將試測線圈引線的兩端與沖擊電流計D相連.撥動雙刀雙擲換向開關K,改變通入螺線管的電流方向,而不改變電流大小,在P中產(chǎn)生的感應電流引起D的指針偏轉.

(1)將開關合到位置1,待螺線管A中的電流穩(wěn)定后,再將K從位置1撥到位置2,測得D的最大偏轉距離為Dm,已知沖擊電流計的磁通靈敏度為Dφ,Dφ=,式中ΔΦ為單匝試測線圈磁通量的變化量.則試測線圈所在處磁感應強度B=__________;若將K從位置1撥到位置2的過程所用的時間為Δt,則試測線圈P中產(chǎn)生的平均感應電動勢E=__________.

(2)調節(jié)可變電阻R,多次改變電流并撥動K,得到A中電流I和磁感應強度B的數(shù)據(jù),見下表.由此可得,螺線管A內(nèi)部磁感應強度B和電流I的關系為B=__________.

實驗次數(shù)

I/A

B./×10-3 T

1

0.5

0.62

2

1.0

1.25

3

1.5

1.88

4

2.0

2.51

5

2.5

3.12

(3)(多選題)為了減小實驗誤差,提高測量的準確性,可采取的措施有(    )

A.適當增加試測線圈的匝數(shù)N               B.適當增大試測線圈的橫截面積S

C.適當增大可變電阻R的阻值               D.適當延長撥動開關的時間Δt

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科目:高中物理 來源: 題型:

如圖所示是測量通電螺線管A內(nèi)部磁感應強度B及其與電流I關系的實驗裝置。將截面積為S、匝數(shù)為N的小試測線圈P置于螺線管A中間,試測線圈平面與螺線管的軸線垂直,可認為穿過該試測線圈的磁場均勻。將試測線圈引線的兩端與沖擊電流計D相連。撥動雙刀雙擲換向開關K,改變通入螺線管的電流方向,而不改變電流大小,在P中產(chǎn)生的感應電流引起D的指針偏轉。

(1)將開關合到位置1,待螺線管A中的電流穩(wěn)定后,再將K從位置1撥到位置2,測得D的最大偏轉距離為dm,已知沖擊電流計的磁通靈敏度為Dφ, Dφ,式中為單匝試測線圈磁通量的變化量。則試測線圈所在處磁感應強度B            ;若將K從位置1撥到位置2的過程所用的時間為Δt,則試測線圈P中產(chǎn)生的平均感應電動勢ε           

(2)調節(jié)可變電阻R,多次改變電流并撥動K,得到A中電流I和磁感應強度B的數(shù)據(jù),見右表。由此可得,螺線管A內(nèi)部在感應強度B和電流I的關系為B                      

實驗次數(shù)

I(A)

B(×103T)

1

0.5

0.62

2

1.0

1.25

3

1.5

1.88

4

2.0

2.51

5

2.5

3.12

(3)(多選題)為了減小實驗誤差,提高測量的準確性,可采取的措施有

(A)適當增加試測線圈的匝數(shù)N

(B)適當增大試測線圈的橫截面積S

(C)適當增大可變電阻R的阻值

(D)適當撥長撥動開關的時間Δt

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科目:高中物理 來源: 題型:

如圖所示是測量通電螺線管A內(nèi)部磁感應強度B及其與電流I關系的實驗裝置。將截面積為S、匝數(shù)為N的小試測線圈P置于螺線管A中間,試測線圈平面與螺線管的軸線垂直,可認為穿過該試測線圈的磁場均勻。將試測線圈引線的兩端與沖擊電流計D相連。撥動雙刀雙擲換向開關K,改變通入螺線管的電流方向,而不改變電流大小,在P中產(chǎn)生的感應電流引起D的指針偏轉。

(1)將開關合到位置1,待螺線管A中的電流穩(wěn)定后,再將K從位置1撥到位置2,測得D的最大偏轉距離為dm,已知沖擊電流計的磁通靈敏度為Dφ, Dφ,式中為單匝試測線圈磁通量的變化量。則試測線圈所在處磁感應強度B=______;若將K從位置1撥到位置2的過程所用的時間為Δt,則試測線圈P中產(chǎn)生的平均感應電動勢ε=____。

(2)調節(jié)可變電阻R,多次改變電流并撥動K,得到A中電流I和磁感應強度B的數(shù)據(jù),見右表。由此可得,螺線管A內(nèi)部在感應強度B和電流I的關系為B=______。

(3)為了減小實驗誤差,提高測量的準確性,可采取的措施有(  。

A.適當增加試測線圈的匝數(shù)N  B.適當增大試測線圈的橫截面積S

C.適當增大可變電阻R的阻值  D.適當撥長撥動開關的時間Δt

 

實驗次數(shù)

I(A)

B(×103T)

1

0.5

0.62

2

1.0

1.25

3

1.5

1.88

4

2.0

2.51

5

2.5

3.12

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科目:高中物理 來源: 題型:

 如圖所示是測量通電螺線管A內(nèi)部磁感應強度B及其與電流I關系的實驗裝置。將截面積為S、匝數(shù)為N的小試測線圈P置于螺線管A中間,試測線圈平面與螺線管的軸線垂直,可認為穿過該試測線圈的磁場均勻。將試測線圈引線的兩端與沖擊電流計D相連。撥動雙刀雙擲換向開關K,改變通入螺線管的電流方向,而不改變電流大小,在P中產(chǎn)生的感應電流引起D的指針偏轉。

(1)將開關合到位置1,待螺線管A中的電流穩(wěn)定后,再將K從位置1撥到位置2,測得D的最大偏轉距離為dm,已知沖擊電流計的磁通靈敏度為Dφ, Dφ,式中為單匝試測線圈磁通量的變化量。則試測線圈所在處磁感應強度B=______;若將K從位置1撥到位置2的過程所用的時間為Δt,則試測線圈P中產(chǎn)生的平均感應電動勢ε=____。

(2)調節(jié)可變電阻R,多次改變電流并撥動K,得到A中電流I和磁感應強度B的數(shù)據(jù),見右表。由此可得,螺線管A內(nèi)部在感應強度B和電流I的關系為B=______。

(3)(多選題)為了減小實驗誤差,提高測量的準確性,可采取的措施有(  。

A.適當增加試測線圈的匝數(shù)N  B.適當增大試測線圈的橫截面積S

實驗次數(shù)

I(A)

B(×10-3T)

1

0.5

0.62

2

1.0

1.25

3

1.5

1.88

4

2.0

2.51

5

2.5

3.12

C.適當增大可變電阻R的阻值  D.適當撥長撥動開關的時間Δt

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

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