| 測試指標(biāo) | [70,76) | [76,82) | [82,88) | [88,94) | [94,100] |
| 芯片甲 | 8 | 12 | 40 | 32 | 8 |
| 芯片乙 | 7 | 18 | 40 | 29 | 6 |
分析 (1)根據(jù)題意利用測試指標(biāo)即可求出芯片甲、芯片乙為合格品的概率值;
(2)寫出隨機(jī)變量X的所有取值,計(jì)算對應(yīng)的概率,寫出分布列,計(jì)算EX的值即可.
解答 解:(1)芯片甲為合格品的概率約為
$\frac{40+32+8}{100}=\frac{4}{5}$,
芯片乙為合格品的概率約為
$\frac{40+29+6}{100}=\frac{3}{4}$;
(2)隨機(jī)變量X的所有取值為90,45,30,-15,
且.$P({X=90})=\frac{4}{5}×\frac{3}{4}=\frac{3}{5}$;
$P({X=45})=\frac{1}{5}×\frac{3}{4}=\frac{3}{20}$;
$P({X=30})=\frac{4}{5}×\frac{1}{4}=\frac{1}{5}$;
$P({X=-15})=\frac{1}{5}×\frac{1}{4}=\frac{1}{20}$;
所以,隨機(jī)變量X的分布列為:
| X | 90 | 45 | 30 | -15 |
| P | $\frac{3}{5}$ | $\frac{3}{20}$ | $\frac{1}{5}$ | $\frac{1}{20}$ |
點(diǎn)評 本題考查了離散型隨機(jī)變量的分布列與數(shù)學(xué)期望的計(jì)算問題,是基礎(chǔ)題目.
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| A. | a<b<c | B. | a<c<b | C. | c<b<a | D. | c<a<b |
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| A. | $\frac{2}{3}$ | B. | $\frac{1}{3}$ | C. | $\frac{1}{2}$ | D. | $\frac{3}{4}$ |
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